Workshop

Microscopia Eletrónica de Varrimento (SEM)

Sala 2.2.12, FCUL, Lisboa

Inscrições no workshop a ter lugar na FCUL.

 

Programa:

  • 09h00-09h15 | Introdução à Dias de Sousa S.A.
  • 09h15-10h45 | Introdução à TESCAN e ao portefólio de produtos
  • 10h45-11h15 | Sistemas SEM por Emissão Térmica (Tungsténio) versus Sistemas SEM por Emissão de Campo - Modelos VEGA/MIRA e as Principais Aplicações
  • 11h15-11h45 | Coffee break
  • 11h45-12h15 | Sistemas SEM com Feixe de Iões Focalizados (FIB-SEM) e Plasma FIB-SEM - Principais Aplicações
  • 12h15-12h45 | Várias Possibilidades de Análise - Dectores 3D EDS/EBSD e TOF-SIMS (solução exclusiva da TESCAN)
  • 12h45-13h15 | Sessão Perguntas & Respostas; recolha, identificação das amostras para análise. Breve discussão do objetivo de análise

 

Oradores:

  • Martin Suchánek (Direct Sales Manager)
  • Hana Tesařová, Head of Material Science Application Group
Dias de Sousa S.A. / TESCAN